Derivation of surface roughness correlation function using X-ray reflectivity
Derivation of surface roughness correlation function using X-ray reflectivity
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使用 X 射线反射率推导表面粗糙度相关函数
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yoshikazu Fujii
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hosokawa Saburo;Oshino Yudai;Tanabe Toyokazu;Koga Hiroaki;Beppu Kosuke;Asakura Hiroyuki;Teramura Kentaro;Motohashi Teruki;Okumura Mitsutaka;Tanaka Tsunehiro;Yoshikazu FUJII;Yoshikazu Fujii
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通过 X 射线反射率和 RBS 测量估算表面和界面粗糙度
影响因子：
1.7
作者：
Y. Fujii;K. Nakajima;M. Suzuki;K. Kimura
通讯作者：
K. Kimura
通过 X 射线反射率测量和 TEM 观察进行表面粗糙度估计的比较
DOI：
10.1088/1757-899x/24/1/012008
发表时间：
2011
期刊：
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
影响因子：
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作者：
Y. Fujii
通讯作者：
Y. Fujii
使用小掠射角的 X 射线衍射对表面下的多晶层进行深度分析
影响因子：
1.7
作者：
Y. Fujii;T. Komai;K. Ikeda
通讯作者：
K. Ikeda
表面和界面粗糙度的 X 射线反射率计算的改进
影响因子：
1.5
作者：
Y. Fujii
通讯作者：
Y. Fujii
小掠射角X射线散射估算高温下多晶铁表面粗糙度
影响因子：
1.8
作者：
Y. Fujii;T. Nakayama;Kentaroh Yoshida
通讯作者：
Kentaroh Yoshida