Contact-to-Silicide Probing Attacks on Integrated Circuits and Countermeasures
Contact-to-Silicide Probing Attacks on Integrated Circuits and Countermeasures
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集成电路的接触硅化物探测攻击及对策
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Forte, Domenic
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Covic, Ana;Shi, Qihang;Shen, Haoting;Forte, Domenic
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影响因子：
2
作者：
Wang, Huanyu;Forte, Domenic;Tehranipoor, Mark M.;Shi, Qihang
通讯作者：
Shi, Qihang
通过使用背面 FIB 电路编辑接触触点或硅化物，允许接近每个有源电路节点
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
Microelectronics and reliability
影响因子：
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作者：
R. Schlangen;P. Sadewater;U. Kerst;C. Boit
通讯作者：
C. Boit
Microwind 中引入 10 纳米 FinFET 技术
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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作者：
R. C. Botigelli;N. Pieri;Brendon William Bessi;L. S. Machado;A. Bridi;A. F. de Souza;K. Recchia;P. F. Neto;P. Ross;F. Bressan;M. Nogueira
通讯作者：
M. Nogueira
主动屏蔽对倾斜微探测攻击的脆弱性综合分析
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
IEEE Asian Hardware-Oriented Security and Trust (AsianHOST
影响因子：
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作者：
Shi, Qihang;Wang, Huanyu;Asadizanjani, Navid;Tehranipoor, Mark;Forte, Domenic
通讯作者：
Forte, Domenic