Fabrication and configuration of carbon nanotube probes in atomic force microscopy
Fabrication and configuration of carbon nanotube probes in atomic force microscopy
复制标题
原子力显微镜中碳纳米管探针的制造和配置
DOI：
10.1016/j.cirp.2009.03.088
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hu, X. T.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Fang, F. Z.;Xu, Z. W.;Zhang, G. X.;Hu, X. T.
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影响因子：
1.5
作者：
S. Akita;Y. Nakayama
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S. Akita;Y. Nakayama
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W. Song;K. Y. Jung;O. Beomhoan;B. Park
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Zhifeng Deng;E. Yenilmez;A. Reilein;J. Leu;H. Dai;K. Moler
通讯作者：
Zhifeng Deng;E. Yenilmez;A. Reilein;J. Leu;H. Dai;K. Moler
影响因子：
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作者：
Dai, HJ;Hafner, JH;Smalley, RE
通讯作者：
Smalley, RE