ESD の観点を導入した高等学校歴史教育内容開発－歴史総合の単元「危機遺産と現代の諸課題」を事例として－
ESD の観点を導入した高等学校歴史教育内容開発－歴史総合の単元「危機遺産と現代の諸課題」を事例として－
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纳入ESD视角的高中历史教育内容开发 - 以综合历史单元“濒危遗产与当代问题”为例 -
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
祐岡武志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岡本 智香;大川 尚子;岩﨑 保之;鈴木光男;神山直子;祐岡武志
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GaAs MMIC静电放电和电过应力失效分析
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
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影响因子：
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作者：
Yuchul Hwang;Mikyoung Lee;Michael Pecht Calce
通讯作者：
Michael Pecht Calce
受静电放电应力影响的设备的紧凑失效建模 - 与 CMOS 可靠性仿真相关的评论
DOI：
10.1016/j.microrel.2014.10.015
发表时间：
2015
期刊：
Microelectron. Reliab.
影响因子：
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作者：
M. Miao;Y. Zhou;J. Salcedo;J. Hajjar;J. Liou
通讯作者：
J. Liou
物理故障分析以区分 EOS 和 ESD 故障
DOI：
10.1109/ipfa.2002.1025613
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings of the 9th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (Cat. No.02TH8614)
影响因子：
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作者：
Tung Chih Hang;Cheng Cheng Kou;M.K. Radhakrishnan;N. M. Iyer
通讯作者：
N. M. Iyer
演进、革命和技术扩展——对 ESD 和 EOS 可靠性的影响
影响因子：
3.2
作者：
S. Voldman
通讯作者：
S. Voldman