X-tolerant compaction circuits from Steiner systems
X-tolerant compaction circuits from Steiner systems
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Steiner 系统的 X 耐受压实电路
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yuichiro Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuichiro Fujiwara;Ryoh Fuji-Hara;新堀 淳樹;新堀 淳樹;Yuichiro Fujiwara;新堀 淳樹;Yuichiro Fujiwara
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将 OPMISR 扫描测试效率提升至 10 倍以上
DOI：
10.1109/mdt.2002.1033794
发表时间：
2002
期刊：
IEEE Des. Test Comput.
影响因子：
--
作者：
C. Barnhart;Vanessa Brunkhorst;Frank Distler;Owen Farnsworth;A. Ferko;B. Keller;David Scott;Bernd Könemann;Takeshi Onodera
通讯作者：
Takeshi Onodera
先进的数字逻辑故障隔离系统
影响因子：
3.7
作者：
N. Benowitz;D. F. Calhoun;G. E. Alderson;J. E. Bauer;Carl T. Joeckel
通讯作者：
Carl T. Joeckel
DOI：
10.1109/test.2001.966618
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260)
影响因子：
--
作者：
P. Wohl;J. Waicukauski;T. Williams
通讯作者：
T. Williams
DOI：
10.1142/9789812832245_0008
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
作者：
C. Colbourn
通讯作者：
C. Colbourn
d-析取矩阵：界限和 Lovasz 局部引理
影响因子：
0.8
作者：
H. Yeh
通讯作者：
H. Yeh