Field-induced evolution of metallic nano-tips in indium tin oxide-tris-(8-hydroxyquinoline) aluminum-aluminum device
Field-induced evolution of metallic nano-tips in indium tin oxide-tris-(8-hydroxyquinoline) aluminum-aluminum device
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氧化铟锡-三-(8-羟基喹啉)铝-铝器件中金属纳米尖端的场致演化
DOI：
10.1063/1.3697829
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发表时间：
2012-03
影响因子：
4
通讯作者：
Hou, X. Y.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
He, Y.;Hu, Y. M.;Wu, C. Q.;Hou, X. Y.
研究了电场和温度对氧化铟锡/三(8-羟基喹啉)铝(Alq3)/铝(Al)器件双稳特性的影响。在此期间，器件从高阻(OFF)状态变为低阻(ON)状态的切换时间随着磁场和温度的降低而增加。观察到的现象可以用一个唯象模型来解释，即金属纳米尖端可能会在电场和温度的影响下演化。
The effect of electric field and temperature on bistable characteristics of indium tin oxide/tris-(8-hydroxyquinoline) aluminum (Alq3)/aluminum (Al) device has been investigated. The switching time, during which the device turns from a high resistive (OFF) state to a low resistive (ON) state, increases with decreasing field and temperature. The observed phenomena are accounted for by a phenomenological model that metallic nano-tips may evolve under the influence of the electric field and temperature.
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