Computer Safety, Reliability, and Security
Computer Safety, Reliability, and Security
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计算机安全、可靠性和保密性
DOI：
10.1007/978-3-642-24270-0_8
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Felici M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Felici M
新的系统和功能不断部署在复杂的领域，如空中交通管理（ATM）。不幸的是，在处理变更和评估变更对关键特性（如安全性、安全性等）的影响方面，方法学提供的支持有限。本文关注的是变更需求如何影响安全属性。变更需求是要在系统中实现的变更的规范。本文报告了我们的经验，以支持一个进化的风险分析，以便评估变更需求及其对安全属性的影响。特别是，本文通过在ATM案例研究中使用CORAS模型驱动的风险分析的风险评估练习，讨论了领域专家如何感知结构化风险分析模型的变化。它讨论了支持风险分析的结构化模型如何帮助领域专家分析和评估变化对关键系统特性的影响。
New systems and functionalities are continuously deployed in complex domains such as Air Traffic Management (ATM). Unfortunately, methodologies provide limited support in order to deal with changes and to assess their impacts on critical features (e.g. safety, security, etc.). This paper is concerned with how change requirements affect security properties. A change requirement is a specification of changes that are to be implemented in a system. The paper reports our experience to support an evolutionary risk analysis in order to assess change requirements and their impacts on security properties. In particular, this paper discusses how changes to structured risk analysis models are perceived by domain experts by presenting insights from a risk assessment exercise that uses the CORAS model-driven risk analysis in an ATM case study. It discusses how structured models supporting risk analysis help domain experts to analyse and assess the impact of changes on critical system features.
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DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Int. Arab J. Inf. Technol.
影响因子：
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作者：
H. Ziade;R. Ayoubi;R. Velazco
通讯作者：
R. Velazco
使用自动预注入内存访问分析进行高效故障仿真
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
2012 IEEE International SOC Conference
影响因子：
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作者：
J. Grinschgl;Armin Krieg;C. Steger;R. Weiss;H. Bock;J. Haid
通讯作者：
J. Haid
统计错误注入
DOI：
10.1109/dsn.2008.4630080
发表时间：
2008
期刊：
2008 IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks With FTCS and DCC (DSN)
影响因子：
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作者：
Pradeep Ramachandran;P. Kudva;J. W. Kellington;J. Schumann;P. Sanda
通讯作者：
P. Sanda
SmartInjector：利用智能故障注入进行 SDC 速率分析
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
影响因子：
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作者：
Jianli Li;QingPing Tan
通讯作者：
QingPing Tan
DOI：
10.1109/date.2002.998398
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
影响因子：
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作者：
L. Berrojo;Isabel González;Fulvio Corno;M. Reorda;Giovanni Squillero;L. Entrena;C. López
通讯作者：
C. López