Dual Edge Triggered Flip-Flops for Noise Blocking and Application to Signal Delay Detection
Dual Edge Triggered Flip-Flops for Noise Blocking and Application to Signal Delay Detection
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用于噪声阻断的双边沿触发触发器及其在信号延迟检测中的应用
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yukiya Miura(2)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshihiro Ohkawa;Yukiya Miura(2)
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Fastpath：用于标准扫描设计的路径延迟测试生成器
DOI：
10.1109/test.1994.527946
发表时间：
1994
期刊：
Proceedings., International Test Conference
影响因子：
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作者：
Bill Underwood;Wai;Sungho Kang;H. Konuk
通讯作者：
H. Konuk
用于噪声感知设计的双边沿触发触发器
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
Proc. IEEE European Test Symposium
影响因子：
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作者：
張漢明;野呂昌満;沢田篤史;吉田敦;蜂巣吉成;横森励士;Yukiya Miura
通讯作者：
Yukiya Miura
逻辑电路的延迟测试方法
DOI：
10.1587/essfr.1.3_71
发表时间：
2008
期刊：
IEICE ESS Fundamentals Review
影响因子：
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作者：
S. Kajihara;Yasuo Sato
通讯作者：
Yasuo Sato
使用电路优化和瞬态滤波器插入来降低软错误率
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
Journal of electronic testing
影响因子：
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作者：
M. Choudhury;Quming Zhou;K. Mohanram
通讯作者：
K. Mohanram
使用过程监控结构延迟缺陷筛选
DOI：
10.1109/vtest.2004.1299224
发表时间：
2004
期刊：
22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings.
影响因子：
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作者：
S. Mitra;E. Volkerink;E. McCluskey;S. Eichenberger
通讯作者：
S. Eichenberger