VAET-STT: A variation aware estimator tool for STT-MRAM based memories
VAET-STT: A variation aware estimator tool for STT-MRAM based memories
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VAET-STT：基于 STT-MRAM 的存储器的变化感知估计工具
DOI：
10.23919/date.2017.7927221
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M. B. Tahoori
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Mohanachandran Nair;R. Bishnoi;M. S. Golanbari;F. Oboril;M. B. Tahoori
影响因子：
3.1
作者：
Kuhn, Kelin J.;Giles, Martin D.;Mudanai, Sivakumar
通讯作者：
Mudanai, Sivakumar
DOI：
10.1145/2897937.2898053
发表时间：
2016-06
期刊：
2016 53nd ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC)
影响因子：
--
作者：
Enes Eken;Linghao Song;Ismail Bayram;Cong Xu;Wujie Wen;Yuan Xie;Yiran Chen
通讯作者：
Enes Eken;Linghao Song;Ismail Bayram;Cong Xu;Wujie Wen;Yuan Xie;Yiran Chen
工艺、电压和温度 (PVT) 变化下的 STT-MRAM 单元可靠性评估
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
影响因子：
--
作者：
E. Vatajelu;R. Rodríguez;Marco Indaco;P. Prinetto;J. Figueras
通讯作者：
J. Figueras