Demonstration of stimulated emission depletion phenomenon in luminescence of solid-state scintillator excited by soft X-rays
Demonstration of stimulated emission depletion phenomenon in luminescence of solid-state scintillator excited by soft X-rays
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软X射线激发固态闪烁体发光受激发射损耗现象的演示
DOI：
10.1038/s41598-020-62100-0
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发表时间：
2020
影响因子：
4.6
通讯作者：
Higashiguchi Takeshi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ejima Takeo;Wakayama Toshitaka;Shinozaki Natsumi;Shoji Misaki;Hatayama Genta;Higashiguchi Takeshi
虽然使用软X射线（SX）的成像技术正在开发中，因为可用的光子通量增加，因为同步加速器光源的持续发展，它将是必要的缩小SX相机的像素大小，以产生更精细的SX图像。将受激发射耗尽（STED）方法应用于闪烁体板，然后使用该板作为传感器，是一种有前途的方法，以减少SX相机的像素大小。当用光子能量范围从1.97 eV（630 nm）到2.58 eV（480 nm）的方位偏振激光照射闪烁体时，用紫外（UV）光激发的Ce掺杂Lu2SiO5晶体（Ce：LSO）的发光发生STED现象。当激发光源变为光子能量为800 eV的同步辐射（SR）光时，发生相同的STED现象。发光的光点尺寸因STED现象而减小，并且该光点尺寸随着STED激光的光子能量的增加而减小。Ce：LSO发光能级的能量依赖性可以用来解释发光点处光斑尺寸的变化。
Although imaging techniques using soft X-rays (SXs) are being developed as the available photon flux increases because of the continuing development of synchrotron light sources, it will be necessary to downsize the pixel size of the SX camera to produce finer SX images. Application of the stimulated emission depletion (STED) method to a scintillator plate followed by use of this plate as a sensor is one promising method to reduce the pixel size of SX cameras. A STED phenomenon occurred in the luminescence of a Ce-doped Lu2SiO5crystal (Ce:LSO) excited using ultraviolet (UV) light when the scintillator was irradiated with azimuthally polarized laser light in the photon energy range from 1.97 eV (630 nm) to 2.58 eV (480 nm). When the excitation light source changed to synchrotron radiation (SR) light with photon energy of 800 eV, the same STED phenomenon occurred. The spot size of the luminescence was reduced by the STED phenomenon and this spot size decreased as the STED laser’s photon energy increased. The energy dependence of the Ce:LSO luminescence levels can be used to explain the change in the spot size at the luminescence point.
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影响因子：
4.6
作者：
Wakayama T;Higashiguchi T;Sakaue K;Washio M;Otani Y
通讯作者：
Otani Y
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DOI：
--
发表时间：
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影响因子：
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通讯作者：
Takashi Kameshima
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10.1016/j.elspec.2014.05.002
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通讯作者：
T. Harada
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通讯作者：
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