Measurement of Thickness of Molecularly Thin Lubricant Film using Ellipsometric Microscopy
Measurement of Thickness of Molecularly Thin Lubricant Film using Ellipsometric Microscopy
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使用椭圆光度显微镜测量分子薄润滑油膜的厚度
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Mitsuya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Fukuzawa;T.Shimuta;A.Nakada;H.Zhang;Y.Mitsuya
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使用数字增强型椭偏显微镜直接观察磁盘上的分子薄润滑油膜
DOI：
10.1109/tmag.2003.808917
发表时间：
2002
期刊：
Digest of the Asia-Pacific Magnetic Recording Conference
影响因子：
--
作者：
K. Fukuzawa;T. Noda;Y. Mitsuya
通讯作者：
Y. Mitsuya
全氟聚醚润滑油薄膜的粗糙度：对磁盘驱动器技术的影响
影响因子：
2.1
作者：
C. M. Mate;M. Toney;K. Leach
通讯作者：
K. Leach
薄膜磁盘头-磁盘-界面的光学表面分析
影响因子：
2.5
作者：
S. W. Meeks;W. Weresin;H. Rosen
通讯作者：
H. Rosen
固体表面上的液态聚合物构象
DOI：
10.1063/1.456392
发表时间：
1989
期刊：
影响因子：
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作者：
V. Novotny;I. Hussla;J. Turlet;M. R. Philpott
通讯作者：
M. R. Philpott
使用 X 射线反射率、ESCA 和光学椭圆光度法测量硅和非晶氢化碳上的全氟聚醚聚合物薄膜的厚度。
影响因子：
9.9
作者：
Toney;Maté;Leach;Pocker
通讯作者：
Pocker