Local Photothermal Measurements by AFM around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material
Local Photothermal Measurements by AFM around Grain Boundary in Multicrystalline Silicon Material
复制标题
多晶硅材料晶界周围 AFM 的局部光热测量
DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
K. Hara and T. Takahashi
中科院分区:
文献类型:
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作者:
中村立;藤村紀文;K. Hara and T. Takahashi
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
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作者:
M. Takihara;Takatoshi Igarashi;T. Ujihara;Takuji Takahashi
通讯作者:
Takuji Takahashi
影响因子:
4
作者:
M. Takihara;Takuji Takahashi;T. Ujihara
通讯作者:
M. Takihara;Takuji Takahashi;T. Ujihara
影响因子:
1.5
作者:
Hara, Kenji;Takahashi, Takuji
通讯作者:
Takahashi, Takuji