Electrostatic characteristics of nanostructures investigated using electric force microscopy
Electrostatic characteristics of nanostructures investigated using electric force microscopy
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使用电力显微镜研究纳米结构的静电特性
DOI：
10.1016/j.jssc.2008.06.036
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发表时间：
2008-07
影响因子：
3.3
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
纳米材料具有许多有趣的物理和化学性质，与宏观材料有很大的不同。了解纳米结构的尺寸和形状依赖特性对合理设计具有理想功能的纳米材料具有重要价值。电力显微镜（EFM）及其变化提供了独特的机会，以加深我们对纳米结构的电学特性的见解。本文综述了这一通用技术的最新进展及其在纳米材料电性能研究中的应用。讨论了EFM实验和理论建模中的各种重要问题，重点介绍了正在进行的提高纳米结构电荷密度和介电性质定量测量精度的努力。
Nanosized materials possess many interesting physical and chemical properties that differ significantly from their macroscopic counterparts. Understanding the size- and shape-dependent properties of nanostructures are of great value to rational design of nanomaterials with desired functionality. Electric force microscopy (EFM) and its variations offer unique opportunities to deepen our insights into the electrical characteristics of nanostructures. In this paper, we review recent progress of this versatile technique and its applications in studying the electrical properties of nanosized materials. A variety of important issues in EFM experimentation and theoretical modeling are discussed, with an emphasis on the ongoing efforts to improve the precision in quantitative measurements of charge density and dielectric properties of nanostructures.
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