Electron-beam broadening in amorphous carbon films in low-energy scanning transmission electron microscopy.
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低能扫描透射电子显微镜中非晶碳薄膜的电子束展宽
DOI：
10.1016/j.ultramic.2017.11.005
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
D. Gerthsen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H. Drees;E. Müller;M. Dries;D. Gerthsen
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