Design for testability of software-based self-test for processors
Design for testability of software-based self-test for processors
复制标题
处理器基于软件的自测试的可测试性设计
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideo Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masato NaKazato;Satoshi Ohtake;Michiko Inoue;Hideo Fujiwara
微处理器内核路径延迟故障的测试程序综合
DOI：
10.1109/test.2000.894321
发表时间：
2000
期刊：
Proceedings International Test Conference 2000 (IEEE Cat. No.00CH37159)
影响因子：
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作者：
Wei;Angela Krstic;K. Cheng
通讯作者：
K. Cheng
用于测试片上系统中的处理器和 IP 核的指令级 DfT
DOI：
10.1109/dac.2001.156108
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings of the 38th Design Automation Conference (IEEE Cat. No.01CH37232)
影响因子：
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作者：
Wei;K. Cheng
通讯作者：
K. Cheng
高效模板生成，用于处理器内核基于指令的自测试
DOI：
10.1109/ats.2004.39
发表时间：
2004
期刊：
13th Asian Test Symposium
影响因子：
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作者：
K. Kambe;M. Inoue;H. Fujiwara
通讯作者：
H. Fujiwara