ATLAS ITk strip sensor quality assurance tests and results of ATLAS18 pre-production sensors
ATLAS ITk strip sensor quality assurance tests and results of ATLAS18 pre-production sensors
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ATLAS ITk 条形传感器质量保证测试和 ATLAS18 预生产传感器的结果
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Hirose et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Aoki T;Kaneko Y;Kearse J;Masashi Minamide;Oogi T.;小高裕和;S. Hirose et al.
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ATLAS Inner Tracker 条形传感器生产的质量保证方法
DOI：
10.1016/j.nima.2020.164521
发表时间：
2020
影响因子：
1.4
作者：
M. Ullán;P. Allport;K. Dette;V. Fadeyev;J. Fernandez;C. Fleta;L. Gonella;I. Kopsalis;R. Orr;Y. Unno
通讯作者：
Y. Unno
用于表征导电层线宽的桥式电阻器和范德堡片式电阻器
DOI：
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发表时间：
1978
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Buehler;S. D. Grant;W. R. Thurber
通讯作者：
W. R. Thurber
影响因子：
1.6
作者：
Ambrozic, K.;Zerovnik, G.;Snoj, L.
通讯作者：
Snoj, L.
ATLAS17LS – 用于 ATLAS ITk 条状探测器长条状筒部分的大幅面原型硅条传感器
DOI：
10.1016/j.nima.2020.164928
发表时间：
2020
影响因子：
1.4
作者：
Y. Unno;Y. Abo;A. Affolder;P. Allport;I. Bloch;A. Blue;V. Fadeyev;J. Fernandez;I. Gregor;C. Haber;K. Hara;B. Hommels;S. Kamada;T. Koffas;H. Lacker;P. Miyagawa;U. Parzefall;C. A. Sawyer;M. Ullán;K. Yamamura;H. Zhu
通讯作者：
H. Zhu