Manufacturability-Aware Design of Standard Cells
Manufacturability-Aware Design of Standard Cells
复制标题
标准单元的可制造性设计
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hirokazu Muta;Hidetoshi Onodera
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DOI：
10.1145/1146909.1147111
发表时间：
2006
期刊：
2006 43rd ACM/IEEE Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
Ke Cao;S. Dobre;Jiang Hu
通讯作者：
Jiang Hu
具有按需库生成的 ASIC 设计方法
DOI：
10.1109/vlsic.2001.934194
发表时间：
2001
期刊：
2001 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.01CH37185)
影响因子：
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作者：
H. Onodera;M. Hashimoto;T. Hashimoto
通讯作者：
T. Hashimoto
DOI：
10.1145/1065579.1065677
发表时间：
2005
期刊：
Proceedings. 42nd Design Automation Conference, 2005.
影响因子：
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作者：
Puneet Gupta;Andrew B. Kahng;Youngmin Kim;D. Sylvester
通讯作者：
D. Sylvester
“限制性设计规则”的后端 CAD 流程
DOI：
10.1109/iccad.2004.1382674
发表时间：
2004
期刊：
IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design, 2004. ICCAD-2004.
影响因子：
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作者：
M. Lavin;Fook;G. Northrop
通讯作者：
G. Northrop
支持 RET 的 65 纳米技术节点的高性能电路设计
DOI：
10.1117/12.538242
发表时间：
2004
期刊：
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影响因子：
--
作者：
L. Liebmann;A. E. Barish;Z. Baum;H. Bonges;S. Bukofsky;C. Fonseca;S. Halle;G. Northrop;S. Runyon;L. Sigal
通讯作者：
L. Sigal