Electronic structure of the Si(110)-(16A2) surface : High-resolution ARPES and STM investigation
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Si(110)-(16A2) 表面的电子结构：高分辨率 ARPES 和 STM 研究
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
R. I. G. Uhrberg
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kazuyuki Sakamoto;Martin Setvin;Kenji Mawatari;P. E. J. Eriksson;Kazushi Miki;R. I. G. Uhrberg
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