Effect of residual impurities on transport properties of β-FeSi2 epitaxial films grown by molecular beam epitaxy

Effect of residual impurities on transport properties of β-FeSi2 epitaxial films grown by molecular beam epitaxy
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残留杂质对分子束外延生长β-FeSi2外延薄膜输运性能的影响

DOI:
10.1063/1.4731246
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发表时间:
2012
影响因子:
3.2
通讯作者:
K. Noda
K. Noda
中科院分区:
物理与天体物理3区
文献类型:
--
作者:
Y. Terai;K. Noda

文献摘要

参考文献

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Y. Maeda;Y. Terai;M. Itakura;N. Kuwano
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