An Approach to Simultaneously Test Multiple Devices for High-Throughput Production of Thin-Film Electronics
An Approach to Simultaneously Test Multiple Devices for High-Throughput Production of Thin-Film Electronics
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一种同时测试多个器件以实现薄膜电子产品高通量生产的方法
DOI：
10.1109/jdt.2015.2462291
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发表时间：
2016
影响因子：
--
通讯作者：
Kumar A
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kumar A
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基于ARM9/sup TM/核心的混合信号soc Dragonball/sup TM/-MX1的低成本测试方法的挑战
DOI：
10.1109/test.2003.1270877
发表时间：
2003
期刊：
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003.
影响因子：
--
作者：
George Bao
通讯作者：
George Bao
影响因子：
64.8
作者：
Nomura, K;Ohta, H;Hosono, H
通讯作者：
Hosono, H
用于高性能信号、能量收集和驱动电路的基于振荡器的塑料薄膜电路的品质因数
DOI：
10.1109/drc.2012.6256980
发表时间：
2012
期刊：
70th Device Research Conference
影响因子：
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作者：
W. Rieutort;L. Huang;Y. Hu;J. Sanz;S. Wagner;J. Sturm;N. Verma
通讯作者：
N. Verma
氢化非晶硅薄膜晶体管（a Si:H TFT）
DOI：
10.1007/978-3-540-79567-4_47
发表时间：
2012
期刊：
2013 Twentieth International Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD)
影响因子：
--
作者：
A. J. Flewitt
通讯作者：
A. J. Flewitt