Physics behind the Ohmic Nature in Silicon Carbide Contacts
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碳化硅触点中欧姆性质背后的物理原理
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Z. C. Wang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Makino;W. Sakamoto;K. Yoshida;M. Moriya;T. Yogo;Z. C. Wang
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