Snapshot 3D Electron Imaging of Structural Dynamics.
Snapshot 3D Electron Imaging of Structural Dynamics.
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DOI：
10.1038/s41598-017-10654-x
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发表时间：
2017-09-07
影响因子：
4.6
通讯作者：
Van Dyck D
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Chen LG;Warner J;Kirkland AI;Chen FR;Van Dyck D
为了了解材料的物理性质，有必要确定所有原子的3D位置。使用电子断层扫描在实现这一目标方面取得了重大进展。然而，这种方法需要一个相对较高的电子剂量和经常延长的采集时间，这排除了结构动力学，如缺陷的形成和演变的研究。在这项工作中，我们描述了一种方法，使确定的3D原子的位置，具有高精度的单高分辨率电子显微镜图像的石墨烯，显示动态过程。我们已经将其应用于电子束诱导的缺陷聚结和石墨烯中的长程波纹的研究。后者强烈影响这种材料的机械和电子性能，这对未来可能的应用很重要。
In order to understand the physical properties of materials it is necessary to determine the 3D positions of all atoms. There has been significant progress towards this goal using electron tomography. However, this method requires a relatively high electron dose and often extended acquisition times which precludes the study of structural dynamics such as defect formation and evolution. In this work we describe a method that enables the determination of 3D atomic positions with high precision from single high resolution electron microscopic images of graphene that show dynamic processes. We have applied this to the study of electron beam induced defect coalescence and to long range rippling in graphene. The latter strongly influences the mechanical and electronic properties of this material that are important for possible future applications.
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影响因子：
8.6
作者：
Fan, Ye;He, Kuang;Warner, Jamie H.
通讯作者：
Warner, Jamie H.
影响因子：
2.2
作者：
Hutchison, JL;Titchmarsh, JM;Sawada, H
通讯作者：
Sawada, H
影响因子：
10.8
作者：
Wang, Wei L.;Bhandari, Sagar;Kaxiras, Efthimios
通讯作者：
Kaxiras, Efthimios
影响因子：
2.2
作者：
Boothroyd, CB
通讯作者：
Boothroyd, CB
DOI：
10.1107/s0567739475000642
发表时间：
1975-01-01
期刊：
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA SECTION A
影响因子：
--
作者：
LYNCH, DF;MOODIE, AF;OKEEFE, MA
通讯作者：
OKEEFE, MA