Conductive-Probe AFM and Kelvin-Probe Force Microscopy Characterization of OH-terminated Diamond (111) Surfaces with Step-Terrace Structures through Water Vapor Annealing
Conductive-Probe AFM and Kelvin-Probe Force Microscopy Characterization of OH-terminated Diamond (111) Surfaces with Step-Terrace Structures through Water Vapor Annealing
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通过水蒸气退火对具有阶梯台结构的 OH 封端金刚石 (111) 表面进行导电探针 AFM 和开尔文探针力显微镜表征
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Takao Inokuma and Norio Tokuda
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Masatsugu Nagai;Ryo Yoshida;Tatsuki Yamada;Taira Tabakoya;Christoph E. Nebel;Satoshi Yamasaki;Toshiharu Makino;Tsubasa Matsumoto;Takao Inokuma and Norio Tokuda
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