Factors affecting the measurement resolution of super-resolution techniques based on speckle interferometry
Factors affecting the measurement resolution of super-resolution techniques based on speckle interferometry
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散斑干涉超分辨技术测量分辨率的影响因素
DOI：
10.1080/09500340.2022.2094011
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发表时间：
2022
影响因子：
1.3
通讯作者：
Yasuhiko Arai
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Inaba Masafumi;Kono Masaki;Oda Takenori;Phansiri Nisarut;Nakano Michihiko;Suehiro Junya;Yasuhiko Arai
提出了一种基于散斑干涉术的光相位分析技术，用于观察物体超出衍射极限时的形状。在测量过程中必须考虑几个条件，才能使用该技术观察详细的显微组织。本文对测量过程中的主要因素进行了研究，评价了各因素对测量分辨率的影响。此外，还给出了各因素的最佳条件。在适当的测量条件下，这种测量技术能够以大约100 nm的高分辨率观察超出衍射极限的微结构。通过为这种通过探测光的相位来观察超出衍射极限的新方法提出适当的测量条件，创造了一个扩大包括生物相关技术在内的使用领域的环境。
A technique is proposed to observe the shape of an object beyond the diffraction limit by analysing the phase of light based on speckle interferometry. Several conditions must be considered during the measurement process to use this technique to observe detailed microstructure. In this study, the primary factors in the measurement process are investigated, and the influence of each factor on the measurement resolution is evaluated. Moreover, the optimum conditions for each factor are proposed. Under appropriate measurement conditions, this measurement technique enables the observation of microstructure beyond the diffraction limit with a high resolution of approximately 100 nm. By proposing proper measurement conditions for this new method of observing beyond the diffraction limit by detecting the phase of light, an environment is created to extend the fields of use including bio-related technologies.
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通讯作者：
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DOI：
10.1080/09500340.2020.1760383
发表时间：
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期刊：
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--
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C. Vest