A Feasibility Study of Active Current Testing
A Feasibility Study of Active Current Testing
复制标题
有功电流测试的可行性研究
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yukiya Miura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
齊藤圭介;伊丸岡修哉;佐藤友暁;深瀬政秋;Yukiya Miura
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混合信号电路的故障行为和内部条件变化
影响因子：
0.7
作者：
Y. Miura
通讯作者：
Y. Miura
基于工作区域模型和X-Y分区法的模拟电路自适应故障诊断
DOI：
10.1007/s10836-007-5022-6
发表时间：
2004
期刊：
Journal of Electronic Testing
影响因子：
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作者：
Y. Miura;J. Kato
通讯作者：
J. Kato
专用于 RF 应用的鲁棒 130 nm-CMOS 内置电流传感器
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
IEEE European Test Symposium
影响因子：
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作者：
M. Cimino;H. Lapuyade;M. D. Matos;T. Taris;Y. Deval;J. Bégueret
通讯作者：
J. Bégueret
射频电路的 Vdd 斜坡测试
DOI：
10.1109/test.2003.1270893
发表时间：
2003
期刊：
International Test Conference, 2003. Proceedings. ITC 2003.
影响因子：
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作者：
J. P. D. Gyvez;G. Gronthoud;Rashid Amine
通讯作者：
Rashid Amine
使用电源电流特征测试射频组件
DOI：
10.1109/ats.2007.87
发表时间：
2007
期刊：
16th Asian Test Symposium (ATS 2007)
影响因子：
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作者：
S. S. Akbay;Shreyas Sen;A. Chatterjee
通讯作者：
A. Chatterjee