Investigation of Contamination Removal from Finished EUVL Mask

Investigation of Contamination Removal from Finished EUVL Mask
复制标题

EUVL 口罩成品的污染物去除研究

DOI:
--
复制
发表时间:
2003
期刊:
J.Photopolym.Sci.Technol. 16,3
影响因子:
--
通讯作者:
H.Kinoshita
H.Kinoshita
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
K.Hamamoto;S.Takada;T.Watanabe;N.Sakaya;T.Shoki;M.Hosoya;H.Kinoshita

文献摘要

参考文献

被引文献

相似文献

DOI: 10.1117/12.438367
发表时间: 2001
期刊: --
影响因子: --
作者:
H. Nii;H. Kinoshita;Takeo Watanabe;K. Hamamoto;H. Tsubakino;Y. Sugie
通讯作者: Y. Sugie
通过干法和湿法工艺清洗 EUV 掩模
DOI: 10.1117/12.438368
发表时间: 2001
期刊: --
影响因子: --
作者:
H. Nii;H. Kinoshita;Takeo Watanabe;Y. Matsuo;Y. Sugie
通讯作者: Y. Sugie
在新斯巴鲁使用极紫外线实验室工具获得的实验结果
DOI: 10.1143/jjap.39.6771
发表时间: 2000
影响因子: 1.5
作者:
H. Kinoshita;Takeo Watanabe
通讯作者: Takeo Watanabe