Analysis of Jitter Accumulation in Interleaved Phase Frequency Detectors for High-Accuracy On-Chip Jitter Measurements
Analysis of Jitter Accumulation in Interleaved Phase Frequency Detectors for High-Accuracy On-Chip Jitter Measurements
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用于高精度片上抖动测量的交错相频检测器中的抖动累积分析
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Haruo Kobayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masato Sakurai;Kiichi Niitsu;Naohiro Harigai;Daiki Hirabayashi;Daiki Oki;Takahiro J. Yamaguchi;Haruo Kobayashi
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PLL 片上抖动测量：分析和设计
DOI：
10.1109/vlsic.2006.1705318
发表时间：
2006
期刊：
2006 Symposium on VLSI Circuits, 2006. Digest of Technical Papers.
影响因子：
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作者：
S. Vamvakos;V. Stojanović;J. Zerbe;C. Werner;D. Draper;B. Nikolić
通讯作者：
B. Nikolić
具有亚皮秒分辨率的片上抖动测量电路
DOI：
10.1109/esscir.2005.1541583
发表时间：
2005
期刊：
Proceedings of the 31st European Solid-State Circuits Conference, 2005. ESSCIRC 2005.
影响因子：
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作者：
K. Jenkins;A. Jose;D. Heidel
通讯作者：
D. Heidel
90 nm 低功耗多 CPU 处理器中具有 20 个电源域的分层电源分配
DOI：
10.1109/isscc.2006.1696281
发表时间：
2006
期刊：
2007 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology
影响因子：
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作者：
Y. Kanno;H. Mizuno;Y. Yasu;K. Hirose;Y. Shimazaki;T. Hoshi;Y. Miyairi;Toshifumi Ishii;Tetsuya Yamada;T. Irita;T. Hattori;K. Yanagisawa;N. Irie
通讯作者：
N. Irie
用于高速数字设计的片上抖动频谱分析仪
DOI：
10.1109/isscc.2004.1332738
发表时间：
2004
期刊：
2004 IEEE International Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04CH37519)
影响因子：
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作者：
M. Takamiya;H. Inohara;M. Mizuno
通讯作者：
M. Mizuno
具有时间交错相位检测器阵列的 622 Mb/s CMOS 时钟恢复 PLL
DOI：
10.1109/isscc.1996.488569
发表时间：
1996
期刊：
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影响因子：
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作者：
Inyeol Lee;C. Yoo;Wonchan Kim;S. Chai;W. Song
通讯作者：
W. Song