Node Monitoring as a Fault Detection Countermeasure against Information Leakage within a RISC-V Microprocessor
Node Monitoring as a Fault Detection Countermeasure against Information Leakage within a RISC-V Microprocessor
复制标题
节点监控作为 RISC-V 微处理器内信息泄漏的故障检测对策
DOI：
10.3390/cryptography6030038
复制
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
1.6
通讯作者：
Dziki, Brian
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Owen, Donald E.;Joseph, Jithin;Plusquellic, Jim;Mannos, Tom J.;Dziki, Brian
登录
查看更多内容
在 RISC-V 微处理器上使用基于协同设计的故障注入技术进行信息泄漏分析
DOI：
10.1109/tcad.2021.3065915
发表时间：
2021
影响因子：
2.9
作者：
J. Plusquellic;Donald E. Owen;T. Mannos;Brian Dziki
通讯作者：
Brian Dziki
RISC-V 处理器内核的微架构差异对软错误效应的影响
影响因子：
3.9
作者：
Hyungmin Cho
通讯作者：
Hyungmin Cho
影响因子：
3.9
作者：
J. Wakerly
通讯作者：
J. Wakerly
使用 UltraScale FPGA 仿真在门级对可综合嵌入式处理器进行故障测试
DOI：
10.1145/3289602.3293931
发表时间：
2019
期刊：
Proceedings of the 2019 ACM/SIGDA International Symposium on Field-Programmable Gate Arrays
影响因子：
--
作者：
T. Mannos;Brian Dziki;Moslema Sharif
通讯作者：
Moslema Sharif
CrashTesting SWAT：对基于症状的弹性解决方案进行准确的门级评估
DOI：
10.1109/date.2012.6176660
发表时间：
2012
期刊：
2012 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子：
--
作者：
Andrea Pellegrini;Robert Smolinski;Lei Chen;Xin Fu;S. Hari;Junhao Jiang;S. Adve;T. Austin;V. Bertacco
通讯作者：
V. Bertacco