Near-Field Slit Probe Incorporating a Micromachined Silicon Chip for
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包含微加工硅芯片的近场狭缝探头
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Bae
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Nozokido;N. Miyasaka;T. Murai;J. Bae
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用于毫米波扫描近场显微镜的谐振狭缝型探头
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
IEICE Trans. Electron. E87-C・12
影响因子：
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作者：
Tatsuo Nozokido;Tomohiro Ohbayashi;Jongsuck Bae;Koji Mizuno
通讯作者：
Koji Mizuno
使用近场扫描微波显微镜进行定量形貌成像
影响因子：
4
作者：
C. P. Vlahacos;D. Steinhauer;S. Dutta;B. J. Feenstra;S. Anlage;F. Wellstood
通讯作者：
F. Wellstood
使用扫描近场微波显微镜测量电场强度
影响因子：
4.3
作者：
Roman Kantor;I. Shvets
通讯作者：
I. Shvets
美津浓毫米波扫描近场各向异性显微镜
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Review of Scientific Instruments vol.76 no.3
影响因子：
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作者：
Tatsuo Nozokido;Ryohei Iibuchi;Jongsuck Bae;Koji Mizuno
通讯作者：
Koji Mizuno
使用金属微缝探针在毫米波长下扫描近场光学显微镜的实验演示
影响因子：
4
作者：
J. Bae;T. Okamoto;T. Fujii;K. Mizuno;T. Nozokido
通讯作者：
T. Nozokido