The Impact of Cold Aisle Containment Pressure Relief on IT Availability
The Impact of Cold Aisle Containment Pressure Relief on IT Availability
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冷通道遏制压力释放对 IT 可用性的影响
DOI:
10.1109/itherm.2018.8419557
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发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Alissa, Husam A.
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Tradat, Mohammad. I.;Puvvadi, Udaya L.N.;Sammakia, Bahgat G.;Ghose, Kanad;Ibrahim, Mahmoud;Calder, Andrew;Peddle, Thomas;Seymour, Mark;Alissa, Husam A.
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DOI:
10.1115/ipack2013-73163
发表时间:
2013-07
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
M. Patterson;R. Martin;J. V. Oehsen;James Pepin;Y. Joshi;V. K. Arghode;R. Steinbrecher;J. King
通讯作者:
M. Patterson;R. Martin;J. V. Oehsen;James Pepin;Y. Joshi;V. K. Arghode;R. Steinbrecher;J. King
DOI:
--
发表时间:
2010
期刊:
2010 12th IEEE Intersociety Conference on Thermal and Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems
影响因子:
--
作者:
E. Walsh;T. J. Breen;J. Punch;Amip Shah;C. Bash
通讯作者:
C. Bash
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
T. J. Breen;E. Walsh;J. Punch;Amip Shah;C. Bash;B. Rubenstein;Scot Heath;N. Kumari
通讯作者:
N. Kumari
DOI:
--
发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
--
作者:
T. J. Breen;E. Walsh;J. Punch;Amip Shah;C. Bash;N. Kumari;T. Cader
通讯作者:
T. Cader
DOI:
--
发表时间:
2016
期刊:
Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium
影响因子:
--
作者:
H. Alissa;K. Nemati;B. Sammakia;Tom Wu;M. Seymour
通讯作者:
M. Seymour