Circuit Performance Prediction Considering Core Utilization with Interconnect Length Distribution Model
Circuit Performance Prediction Considering Core Utilization with Interconnect Length Distribution Model
复制标题
考虑核心利用率和互连长度分布模型的电路性能预测
DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
and K. Masu
中科院分区:
文献类型:
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作者:
H. Nakashima;J. Inoue;K. Okada;and K. Masu
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DOI:
10.1109/cicc.1997.606603
发表时间:
1997
期刊:
Proceedings of CICC 97 - Custom Integrated Circuits Conference
影响因子:
--
作者:
Jeffrey A. Davis;Vivek De;James D. Meindl
通讯作者:
James D. Meindl
DOI:
10.1109/iitc.2003.1219713
发表时间:
2003
期刊:
Proceedings of the IEEE 2003 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.03TH8695)
影响因子:
--
作者:
H. Nakashima;N. Takagi;K. Masu
通讯作者:
K. Masu
影响因子:
3.1
作者:
S. Takahashi;M. Edahiro;Y. Hayashi
通讯作者:
Y. Hayashi
影响因子:
3.1
作者:
Jeffrey A. Davis;V. De;James D. Meindl
通讯作者:
James D. Meindl