Edge pixel response studies of edgeless silicon sensor technology for pixellated imaging detectors
Edge pixel response studies of edgeless silicon sensor technology for pixellated imaging detectors
复制标题
用于像素化成像探测器的无边缘硅传感器技术的边缘像素响应研究
DOI：
10.1088/1748-0221/10/03/p03018
复制
发表时间：
2015
影响因子：
1.3
通讯作者：
Maneuski D
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Maneuski D
登录
查看更多内容
与 Medipix2 读出芯片耦合的无边缘像素探测器的表征
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
作者：
J. Kalliopuska;L. Tlustos;S. Eränen;T. Virolainen
通讯作者：
T. Virolainen
采用微聚焦 X 射线束的像素化和带状硅探测器的无边缘技术的表征
影响因子：
1.3
作者：
Bates R
通讯作者：
Bates R
适用于硅传感器的划线-切割-钝化 (SCP) 薄边技术
DOI：
10.1016/j.nima.2013.03.046
发表时间：
2013
期刊：
Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
影响因子：
--
作者：
Fadeyev V
通讯作者：
Fadeyev V
XFEL 为 LPD 混合像素探测器开发无边缘传感器
DOI：
10.1016/j.nima.2009.03.114
发表时间：
2009
期刊：
Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
影响因子：
--
作者：
Blue A
通讯作者：
Blue A
6 英寸晶圆上无边缘探测器的替代制造工艺
DOI：
10.1016/j.nima.2010.06.119
发表时间：
2011
影响因子：
1.4
作者：
J. Kalliopuska;S. Eränen;T. Virolainen
通讯作者：
T. Virolainen