Multi-Layer Test and Diagnosis for Dependable NoCs
Multi-Layer Test and Diagnosis for Dependable NoCs
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可靠 NoC 的多层测试和诊断
DOI：
10.1145/2786572.2788708
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M. Radetzki
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
H.-J. Wunderlich;M. Radetzki
片上网络具有固有的容错性，或者至少可以适度地降级，因为连接性和资源量都提供了一些有用的冗余。只有在测试和诊断技术以优化的方式支持故障检测和错误遏制的情况下，这些属性才能被广泛利用。一方面，所有的故障组件必须被隔离，另一方面，其余的无故障功能必须保持operation.In这方面的贡献，行为端到端的错误检测被认为是与开关和门级诊断功能测试方法一起定位和隔离故障在网络中的一个有效的方式与低的时间开销。
Networks-on-chip are inherently fault tolerant or at least gracefully degradable as both, connectivity and amount of resources, provide some useful redundancy. These properties can only be exploited extensively if test and diagnosis techniques support fault detection and error containment in an optimized way. On the one hand, all faulty components have to be isolated, and on the other hand, remaining fault-free functionalities have to be kept operational.In this contribution, behavioral end-to-end error detection is considered together with functional test methods for switches and gate level diagnosis to locate and to isolate faults in the network in an efficient way with low time overhead.
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DOI：
10.1145/2024724.2024931
发表时间：
2011-06
期刊：
2011 48th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC)
影响因子：
--
作者：
Konstantinos Aisopos;C. Chen;L. Peh
通讯作者：
Konstantinos Aisopos;C. Chen;L. Peh
DOI：
10.1109/tcad.2005.847907
发表时间：
2005-05
影响因子：
2.9
作者：
D. Bertozzi;L. Benini;G. Micheli
通讯作者：
D. Bertozzi;L. Benini;G. Micheli
功率限制下基于软件的处理器自测试
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
Proceedings of the Design Automation & Test in Europe Conference
影响因子：
--
作者：
Jun Zhou;H. Wunderlich
通讯作者：
H. Wunderlich
论通过功能测试弥补片上网络的结构缺陷
DOI：
10.1109/ats.2014.27
发表时间：
2014
期刊：
2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
A. Dalirsani;N. Hatami;M.E. Imhof;M. Eggenberger;G. Schley;M. Radetzki;H.-J. Wunderlich
通讯作者：
H.-J. Wunderlich
微处理器内核的全自动测试程序生成
DOI：
10.1109/date.2003.1253736
发表时间：
2003
期刊：
2003 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
影响因子：
--
作者：
Fulvio Corno;G. Cumani;M. Reorda;Giovanni Squillero
通讯作者：
Giovanni Squillero