On Covering Structural Defects in NoCs by Functional Tests
On Covering Structural Defects in NoCs by Functional Tests
复制标题
论通过功能测试弥补片上网络的结构缺陷
DOI：
10.1109/ats.2014.27
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
H.-J. Wunderlich
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Dalirsani;N. Hatami;M.E. Imhof;M. Eggenberger;G. Schley;M. Radetzki;H.-J. Wunderlich
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DOI：
10.1145/2024724.2024931
发表时间：
2011-06
期刊：
2011 48th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC)
影响因子：
--
作者：
Konstantinos Aisopos;C. Chen;L. Peh
通讯作者：
Konstantinos Aisopos;C. Chen;L. Peh
用于逻辑诊断的广义故障建模
DOI：
10.1007/978-90-481-3282-9_5
发表时间：
2010
期刊：
Proceedings of the Fifth ACM/IEEE International Symposium
影响因子：
--
作者：
H. Wunderlich;S. Holst
通讯作者：
S. Holst
使用布尔可满足性探索顺序 ATPG
DOI：
10.1109/vtest.1993.313303
发表时间：
1993
期刊：
Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
H. Konuk;T. Larrabee
通讯作者：
T. Larrabee
基于结构软件的片上网络自测试
DOI：
10.1109/vts.2014.6818754
发表时间：
2014
期刊：
2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS)
影响因子：
--
作者：
A. Dalirsani;M.E. Imhof;H.-J. Wunderlich
通讯作者：
H.-J. Wunderlich
DOI：
10.1007/bf00137392
发表时间：
1990
期刊：
Journal of Electronic Testing
影响因子：
--
作者：
A. Kunzmann;H. Wunderlich
通讯作者：
H. Wunderlich