Protecting flash memory areas against memory faults in tiny embedded systems
Protecting flash memory areas against memory faults in tiny embedded systems
复制标题
保护闪存区域免受微型嵌入式系统中的内存故障影响
DOI：
10.1109/bec.2016.7743736
复制
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
P. Skoncej
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
P. Skoncej
登录
查看更多内容
可移动介质的非易失性存储器
影响因子：
20.6
作者：
R. Micheloni;M. Picca;Stefano Amato;H. Schwalm;Michael Scheppler;S. Commodaro
通讯作者：
S. Commodaro
工作条件下 1Gbit 90nm NAND 闪存的单粒子效应
DOI：
--
发表时间：
2007
期刊：
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
影响因子：
--
作者：
M. Bagatin;G. Cellere;S. Gerardin;A. Paccagnella;A. Visconti;S. Beltrami;M. Maccarrone
通讯作者：
M. Maccarrone
嵌入式存储器的 BISR 架构
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
2008 14th IEEE International On-Line Testing Symposium
影响因子：
--
作者：
K. Pekmestzi;N. Axelos;I. Sideris;N. Moschopoulos
通讯作者：
N. Moschopoulos
DOI：
--
发表时间：
2010
影响因子：
2.9
作者：
Yu;Chao;Cheng
通讯作者：
Cheng