Tracking speed bumps in organic field-effect transistors via pump-probe Kelvin-probe force microscopy

Tracking speed bumps in organic field-effect transistors via pump-probe Kelvin-probe force microscopy
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通过泵浦探针开尔文探针力显微镜跟踪有机场效应晶体管中的减速带

DOI:
10.1063/1.4938529
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发表时间:
2015
影响因子:
3.2
通讯作者:
L.M. Eng
L.M. Eng
中科院分区:
物理与天体物理3区
文献类型:
--
作者:
J. Murawski;T. Mönch;P. Milde;M. Hein;S. Nicht;U. Zerweck-Trogisch;L.M. Eng

文献摘要

参考文献

被引文献

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