Tracking speed bumps in organic field-effect transistors via pump-probe Kelvin-probe force microscopy
Tracking speed bumps in organic field-effect transistors via pump-probe Kelvin-probe force microscopy
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通过泵浦探针开尔文探针力显微镜跟踪有机场效应晶体管中的减速带
DOI:
10.1063/1.4938529
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发表时间:
2015
影响因子:
3.2
通讯作者:
L.M. Eng
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
J. Murawski;T. Mönch;P. Milde;M. Hein;S. Nicht;U. Zerweck-Trogisch;L.M. Eng
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影响因子:
6.9
作者:
M. Wrackmeyer;M. Hein;A. Petrich;J. Meiss;M. Hummert;M. Riede;K. Leo
通讯作者:
M. Wrackmeyer;M. Hein;A. Petrich;J. Meiss;M. Hummert;M. Riede;K. Leo
影响因子:
3.2
作者:
Yong Xu;T. Minari;K. Tsukagoshi;J. Chroboczek;G. Ghibaudo
通讯作者:
Yong Xu;T. Minari;K. Tsukagoshi;J. Chroboczek;G. Ghibaudo
DOI:
--
发表时间:
2013
期刊:
Advances in Materials
影响因子:
--
作者:
C. Melzer;C. Siol;H. von Seggern
通讯作者:
H. von Seggern
DOI:
--
发表时间:
1998
期刊:
影响因子:
--
作者:
Ch. Loppacher;M. Bammerlin;F. Battiston;M. Guggisberg;D. Müller;H. Hidber;R. Lüthi;E. Meyer;H. Güntherodt
通讯作者:
H. Güntherodt
DOI:
--
发表时间:
2002
期刊:
影响因子:
--
作者:
Z. Weng;C. J. Falkingham;G. Bridges;D. Thomson
通讯作者:
D. Thomson