Mapping of Ni/SiNx/n-SiC Structure Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
Mapping of Ni/SiNx/n-SiC Structure Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
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使用扫描内部光电显微镜绘制 Ni/SiNx/n-SiC 结构图
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Mayumi B. Takeyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kenji Shiojima;Takanori Hashizume;Masaru Sato;and Mayumi B. Takeyama
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