Small signal and microscopic noise simulation of an nMOSFET by a self-consistent, semi-classical and deterministic approach
Small signal and microscopic noise simulation of an nMOSFET by a self-consistent, semi-classical and deterministic approach
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采用自洽、半经典和确定性方法对 nMOSFET 进行小信号和微观噪声仿真
DOI：
10.1109/sispad.2015.7292248
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
C. Jungemann
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
D. Ruić;C. Jungemann
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