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Mechanisms of Current Noise Generation in Thick Film Resistors

Mechanisms of Current Noise Generation in Thick Film Resistors
厚膜电阻器中电流噪声产生的机制
批准号：
7808411
负责人：
Charles Chen
金额：
$5.4万
依托单位：
University of South Florida
依托单位国家：
美国
项目类别：
Standard Grant
财政年份：
1978
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1978-09-01 至 1981-02-28
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=7808411&HistoricalAwards=false
关键词：
MechanismsCurrentNoiseGenerationThick

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Electromigration and Current Noise in Aluminum Based Thin Conductors
  • 批准号：
    8503522
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $11.26万
  • 财政年份：
    1985
  • 负责人：
    Charles Chen
  • 依托单位：
    University of South Florida
A Study of Burst Noise in Thick Film Resistors
  • 批准号：
    8021043
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $12.19万
  • 财政年份：
    1981
  • 负责人：
    Charles Chen
  • 依托单位：
    University of South Florida
Travel to Attend: Fifth International Conference on Noise In Physical System, Bad Nauheim, Germany: March 13-16, 1978
  • 批准号：
    7808032
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $0.08万
  • 财政年份：
    1978
  • 负责人：
    Charles Chen
  • 依托单位：
    Travel Award
The Effects of Geometry on the Current Noise of Thick Film Resistors
  • 批准号：
    7522280
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $4.17万
  • 财政年份：
    1976
  • 负责人：
    Charles Chen
  • 依托单位：
    University of South Florida
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