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Testing and Diagnosis in Vlsi Circuits and Systems (ComputerResearch)

Testing and Diagnosis in Vlsi Circuits and Systems (ComputerResearch)
Vlsi 电路和系统的测试和诊断（计算机研究）
批准号：
8206564
负责人：
Charles Kime
金额：
$19.01万
依托单位：
University of Wisconsin-Madison
依托单位国家：
美国
项目类别：
Continuing Grant
财政年份：
1982
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1982-07-01 至 1985-12-31
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=8206564&HistoricalAwards=false
关键词：
TestingDiagnosisVlsiCircuitsSystems

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Built-In Self-Test for Random Pattern Resistant Faults
  • 批准号：
    9319742
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $19.5万
  • 财政年份：
    1994
  • 负责人：
    Charles Kime
  • 依托单位：
    University of Wisconsin-Madison
Low-Cost Testing Techniques for VLSI Systems
  • 批准号：
    9003292
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $19.68万
  • 财政年份：
    1990
  • 负责人：
    Charles Kime
  • 依托单位：
    University of Wisconsin-Madison
CISE Research Instrumentation
  • 批准号：
    8820250
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $5.0万
  • 财政年份：
    1989
  • 负责人：
    Charles Kime
  • 依托单位：
    University of Wisconsin-Madison
Algorithm-Based Testing in VLSI Systems
  • 批准号：
    8509194
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $22.76万
  • 财政年份：
    1986
  • 负责人：
    Charles Kime
  • 依托单位：
    University of Wisconsin-Madison
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