Mikrostrukturdefekte in elektrochemisch abgeschiedenen nanoskaligen Multilagenschichten und ihr Einfluss auf magnetische Eigenschaften

点击翻译按钮获取中文摘要

Im Rahmen des Projektes „Mikrostrukturdefekte in elektrochemisch abgeschiedenen nanoskaligen Multilagenschichten und ihr Einfluss auf magnetische Eigenschaften“, welches in Kooperation mit dem Forschungsinstitut für Festkörperphysik und Optik der Ungarischen Akademie der Wissenschaften in Budapest durchgeführt wird, wurde bis jetzt die starke Grenzflächenrauhigkeit als der wichtigste Grund für den derzeit noch unzureichenden GMR-Effekt ermittelt. Die große Grenzflächenrauhigkeit stammt sowohl von der mechanischen Wechselwirkung zwischen den einzelnen Schichten an deren Grenzflächen als auch von der Segregation des mit dem unedleren Metall mit abgeschiedenen edleren Elements in Systemen mit breiter Mischungslücke. Die Grenzflächenrauhigkeit im System Co/Cu soll mittels Zusatz von Additiven reduziert werden. Additive senken zwar die Grenzflächenrauhigkeit, verschlechtern aber gleichzeitig die magnetischen Eigenschaften durch Bildung von Punktdefekten. In der zweiten Förderperiode sollen die Möglichkeiten der Ausheilung dieser Defekte untersucht werden. Im Fokus der Mikrostrukturcharakterisierung mittels Röntgenstreuung, TEM, AFM und spektroskopischer Methoden (EELS, XPS) stehen die Auswirkung der Additive auf die Morphologie und Defektstruktur der Co/Cu Multilagenschichten und der Effekt einer Wärmebehandlung auf ihre Mikrostruktur.