Dünnschicht-Diffraktometer

Das beantragte Dünschicht-Diffraktometer zur Aufklärung der StrukTurn dünner Peteraktischer Schichten.我是Fachbereich材料，我在Jahren zwei dünschichtsystem(PLD)和reaktiver Molekularstrahlep itaxie(MBE)aufgebaut Worden，a denen täglich mehrere Schichten hersterellt deen t täglich mehrere Schichten hersterellt WORDEN。从技术的角度来看，现代和新的技术是不可阻挡的。在多元化的系统中，我们有一台Diffraktometer sind Hoher Röntgenfluss，Hohhe Auflöung zur Bstimung von Gitterpareter n and AuflöSong von Uberstrukturexen，die Möglichkeit zur Röntgenreflektometrie and zum Schnellen Abtataen des reziproken Raum，Sowie entsprechende AuswertungsProgram。

Das beantragte Dünnschicht-Diffraktometer dient zur Aufklärung der Struktur dünner epitaktischer Schichten. Im Fachbereich Materialwissenschaft sind In den letzten Jahren zwei hochmoderne Dünnschichtsysteme zur gepulsten Laserdeposition (PLD) und reaktiver Molekularstrahlepitaxie (MBE) aufgebaut worden, an denen täglich mehrere Schichten hergestellt werden. Dies macht die Anschaffung eines modernen und auf dem neuesten Stand der Technik befindlichen Dünnschicht-Diffraktometers unabdingbar. Anforderungen an das Diffraktometer sind hoher Röntgenfluss, hohe Auflösung zur Bestimmung von Gitterparametern und Auflösung von Überstrukturreflexen in komplexen Multischichtsystemen, die Möglichkeit zur Röntgenreflektometrie und zum schnellen Abtasten des reziproken Raums, sowie entsprechende Auswertungsprogramme.