Dünnschicht-Diffraktometer

Das beantragte Dünschicht-Diffraktometer dient zur Aufklärung der Struktur dünner epitaktischer Schichten.近年来，在工业材料科学领域，有两种先进的激光沉积（PLD）和分子束外延（MBE）系统，它们都是沃登制造的，而且它们都具有很强的韦尔登特性。这使得安装一个现代化的和新的技术标准的Dünschicht-Diffraktometers无法超越。为了使衍射仪成为一种很好的衍射仪，在复杂的多路系统中，通过测量光栅参数和测量结构反射，通过测量衍射反射和测量反射腔，从而实现测量程序。

Das beantragte Dünnschicht-Diffraktometer dient zur Aufklärung der Struktur dünner epitaktischer Schichten. Im Fachbereich Materialwissenschaft sind In den letzten Jahren zwei hochmoderne Dünnschichtsysteme zur gepulsten Laserdeposition (PLD) und reaktiver Molekularstrahlepitaxie (MBE) aufgebaut worden, an denen täglich mehrere Schichten hergestellt werden. Dies macht die Anschaffung eines modernen und auf dem neuesten Stand der Technik befindlichen Dünnschicht-Diffraktometers unabdingbar. Anforderungen an das Diffraktometer sind hoher Röntgenfluss, hohe Auflösung zur Bestimmung von Gitterparametern und Auflösung von Überstrukturreflexen in komplexen Multischichtsystemen, die Möglichkeit zur Röntgenreflektometrie und zum schnellen Abtasten des reziproken Raums, sowie entsprechende Auswertungsprogramme.