Dünnschicht-Diffraktometer

Das beantragte Dünnschicht-Diffraktometer dient zur Aufklärung der Struktur dünner epitaktischer Schichten。我是 Fachbereich Materialwissenschaft sind，在这方面，我们已经介绍了激光沉积 (PLD) 和分子斯特拉皮塔西 (MBE) 技术的最新进展，这是一个非常重要的技术。 Dies macht die Anschaffung eines Modernen und auf dem der Technik befindlichen Dünnschicht-Diffraktometers unabdingbar. Anforderungen and das Diffraktometer sind hoher Röntgenfluss, hohe Auflösung zur Bestimmung von Gitterparametern und Auflösung von Überstrukturreflexen in komplexen Multischichtsystemen, die Möglichkeit zur Röntgenreflektometrie und zum schnellen Abtasten des reziproken Raums, Sowie entsprechende Auswertungsprogramme。

Das beantragte Dünnschicht-Diffraktometer dient zur Aufklärung der Struktur dünner epitaktischer Schichten. Im Fachbereich Materialwissenschaft sind In den letzten Jahren zwei hochmoderne Dünnschichtsysteme zur gepulsten Laserdeposition (PLD) und reaktiver Molekularstrahlepitaxie (MBE) aufgebaut worden, an denen täglich mehrere Schichten hergestellt werden. Dies macht die Anschaffung eines modernen und auf dem neuesten Stand der Technik befindlichen Dünnschicht-Diffraktometers unabdingbar. Anforderungen an das Diffraktometer sind hoher Röntgenfluss, hohe Auflösung zur Bestimmung von Gitterparametern und Auflösung von Überstrukturreflexen in komplexen Multischichtsystemen, die Möglichkeit zur Röntgenreflektometrie und zum schnellen Abtasten des reziproken Raums, sowie entsprechende Auswertungsprogramme.