Photoelektronenspektrometer (XPS)

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Als innovative State-of-the-Art Technik, erlaubt uns XPS neue Wege in der bodenkundlichen Forschung zu beschreiten und ergänzt dabei in idealer Weise die Ausrichtung des Lehrstuhls Bodenchemie sowie des „Zentrum für Oberflächenanalytik und Neue Materialien“ der LUH. XPS erlaubt die detaillierte Erforschung von Oberflächenprozessen in Böden, wie Sorptions-, Fällungs- und Aggregierungsprozesse.Hierbei wird die Bindungsenergie der Photoelektronen für die Identifizierung von Elementen und ihrem Oxidationszustand genutzt. Moderne XPS Instrumente erlauben die Analyse von Nichtleitern (Böden, Minerale, organische Substanz) sowie redoxsensitiven Proben und erzielen eine laterale Auflösung von <10 μm. Als oberflächensensitive Methode mit einer vertikalen Auflösung von ~3 nm erlaubt XPS die Analyse unterschiedlicher C- und N-Bindungsspezies auf Mineraloberflächen, Rückschlüsse auf zugrundeliegende Bindungstypen als auch Aussagen zur flächenhaften Verbreitung von Elementen und ihrem Oxidationszustand. Mittels moderner Sputter-Techniken lassen sich Informationen über die Tiefenverteilung von Elementen in Mineralen und Bodenaggregaten sowie über einzelne C- und N-Bindungsspezies in organischer Substanz gewinnen. Durch seine enorme Flexibilität kann XPS im Rahmen aller oberflächenrelevanten Fragestellungen zur Anwendung gelangen und dabei die Außenwirkung der Bodenwissenschaften im In- und Ausland stärken.