Photoelektronenspektrometer (XPS)

同样是创新的尖端技术，erlaubt unxps neue Wege in der bodenkundlichen Forschung zubeschreiten and ergänzt dabei in idealer Weise die Ausrichtung des Lehrstuhls Bodenchemie sowie des“centrum fr Oberflächenanalytik und neue Materialien”der LUH。XPS技术的研究与应用：Oberflächenprozessen， Böden，吸附-，Fällungs-和聚合技术。河北风力发电技术有限公司，光电子发电技术有限公司，元素与氧化的鉴定与应用。现代XPS仪器erlauben die Analyse von Nichtleitern (Böden, Minerale, organische Substanz) sodox敏Proben和erzielen einelaterale Auflösung von <10 μm。也oberflächensensitive method mit einer vertikalen Auflösung von ~ 3nm erlaubt XPS模具分析unterschiedlicher C- und N-Bindungsspezies auf Mineraloberflächen， r<s:1> ckschl<e:1> sse auf zugrundeliegende Bindungstypen Als auch Aussagen zur flächenhaften Verbreitung von element und ihrem oxidationszuz。mittel的现代溅射技术（Sputter-Techniken）将在Informationen（信息技术）和Bodenaggregaten（信息技术）（信息技术）和berdenzelne（信息技术）（信息技术）和berdenaggregaten（信息技术）和berdenzelne（信息技术）（信息技术）和berdenengsspezies（信息技术）上。Durch seine enorme Flexibilität kann XPS im Rahmen aller oberflächenrelevanten Fragestellungen zur Anwendung gelangen and dabei die auth ßenwirkung der Bodenwissenschaften In and australia stärken。

Als innovative State-of-the-Art Technik, erlaubt uns XPS neue Wege in der bodenkundlichen Forschung zu beschreiten und ergänzt dabei in idealer Weise die Ausrichtung des Lehrstuhls Bodenchemie sowie des „Zentrum für Oberflächenanalytik und Neue Materialien“ der LUH. XPS erlaubt die detaillierte Erforschung von Oberflächenprozessen in Böden, wie Sorptions-, Fällungs- und Aggregierungsprozesse.Hierbei wird die Bindungsenergie der Photoelektronen für die Identifizierung von Elementen und ihrem Oxidationszustand genutzt. Moderne XPS Instrumente erlauben die Analyse von Nichtleitern (Böden, Minerale, organische Substanz) sowie redoxsensitiven Proben und erzielen eine laterale Auflösung von <10 μm. Als oberflächensensitive Methode mit einer vertikalen Auflösung von ~3 nm erlaubt XPS die Analyse unterschiedlicher C- und N-Bindungsspezies auf Mineraloberflächen, Rückschlüsse auf zugrundeliegende Bindungstypen als auch Aussagen zur flächenhaften Verbreitung von Elementen und ihrem Oxidationszustand. Mittels moderner Sputter-Techniken lassen sich Informationen über die Tiefenverteilung von Elementen in Mineralen und Bodenaggregaten sowie über einzelne C- und N-Bindungsspezies in organischer Substanz gewinnen. Durch seine enorme Flexibilität kann XPS im Rahmen aller oberflächenrelevanten Fragestellungen zur Anwendung gelangen und dabei die Außenwirkung der Bodenwissenschaften im In- und Ausland stärken.