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Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

聚焦离子束 - 扫描电子显微镜 (FIB-SEM)

基本信息

批准号：
215213016
负责人：
金额：
--
依托单位：
Hochschule Wismar, University of Applied Sciences: Technology, Business and Design
依托单位国家：
德国
项目类别：
Major Research Instrumentation
财政年份：
2012
资助国家：
德国
起止时间：
2011-12-31 至无数据
项目状态：
未结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/215213016?language=en
关键词：
Focused Ion Beam Scanning Electron

项目摘要

„Das beantragte Großgerät wird in den folgenden drei Gebieten eingesetzt werden: Zum einen wird es als Präparationsgerät für die Herstellung von TEM-Lamellen für das bereits vorhandene TEM am Institut für Oberflächen- und Dünnschichttechnik (IfOD) dienen. Durch Zielpräparation wird es möglich, die Grenzflächenphänomene in der Abscheidung von Schichten auf verschiedenen Substraten und zwischen verschiedenen Schichtsystemen zu erforschen. Nur über die Investition in ein Ionenstrahlsystem, wie das hier beantragte FIB, werden die Anforderungen an eine hinreichende Präparationsmöglichkeit für TEM Untersuchungen an Grenzflächen erfüllt. Durch das FIB sind wir darüber hinaus in der Lage, dreidimensionale Strukturen aus diamantartigen Kohlenstoffschichten (DLC) unterschiedlicher Gestalt im Nano- und Mikromaßstab herzustellen, deren Funktionalität für verschiedene Anwendungen in der Sensorik und Medizintechnik von Bedeutung ist, etwa für nanoskalige Sensoroberflächen. Außerdem wird das FIB mit seinen Analysemöglichkeiten (REM, STEM und EDX) als analytisches Werkzeug durch die Nutzung der Elektronenabbildung (REM) und die Energie-dispersive Röntgenanalyse (EDX) genutzt. Wir sind sicher, dass das hier beantragte FIB-System die analytische Basis des IfOD auf ein völlig neues Niveau heben wird, welches sich schon kurzfristig durch die gesteigerte Qualität der Forschungs- und Entwicklungsergebnisse in den einzelnen Projekten amortisieren wird.“

[1] [as beantragte Großgerät wind in den folgenden drei Gebieten eingesetzt werden]; [Zum einen wird es als Präparationsgerät] [r] die Herstellung von TEM- lamellen f<s:1>] [r] Das bereits vorhandene] [r] Institut <s:1> Oberflächen- und dnschichttechnik (IfOD) dienen]。]Durch Zielpräparation wind es möglich, die Grenzflächenphänomene in der Abscheidung von Schichten auf verschiedenen substrate and zwischen verschiedenen Schichtsystemen zu erforschen。研究了超声成像成像系统中超声成像技术的研究进展：超声成像成像技术、超声成像技术、超声成像技术、超声成像技术、超声成像技术、超声成像技术。Durch as FIB sind wir ir nanoskalige Sensoroberflächen, dreidimensionale Strukturen as diamantartigenkohlenstoffschichten (DLC) unterschiedlicher Gestalt im Nano- und microma ßstab herzustellen, deren Funktionalität fre verschiedenanwendungen in der Sensorik und Medizintechnik von Bedeutung ist, etwa fre nanoskalige Sensoroberflächen。Außerdem wind das FIB mit seinen Analysemöglichkeiten （REM, STEM and EDX）也分析了Werkzeug durch die Nutzung der elektronenabledung (REM) and die energy -dispersive Röntgenanalyse (EDX) genutzt。在此基础上，建立了基于FIB-System的模具分析基础（fdf - system die analysis Basis des ifd - auin völlig nevees Niveau heben wind），建立了基于fdf - system的模具分析基础（fdf - auin Qualität der forschings）和基于fdf - system的模具分析基础（enwicklungsergeniisse in den einzelnen Projekten amortisien wind）。”

项目成果

期刊论文数量（3）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Influence of the structural orientation on the mechanical properties of selective laser melted Ti6Al4V open-porous scaffolds

DOI：
10.1016/j.matdes.2016.01.095
发表时间：
2016-04-05
期刊：
MATERIALS & DESIGN
影响因子：
8.4
作者：
Weissmann, Volker;Bader, Rainer;Laufer, Nico
通讯作者：
Laufer, Nico

Effect of oxygen partial pressure on the bulk and grain-boundary components of conductivity in (Yb1−xCax)2Ti2O7−δ (x = 0, 0.05, 0.1) solid solutions

氧分压对 (Yb1âxCax)2Ti2O7âÎ´ (x = 0, 0 05, 0 1) 固溶体中电导率的体相和晶界成分的影响

DOI：
10.1016/j.materresbull.2013.03.032
发表时间：
2013
期刊：
Materials Research Bulletin
影响因子：
5.4
作者：
Petra Fedtke;A.V. Shlyakhtina;Andreas Busch;Torsten Barfelsa;Marion Wienecke;L.G. Shcherbakova
通讯作者：
L.G. Shcherbakova

The Effect of Bias Voltage and Gas Pressure on the Structure, Adhesion and Wear Behavior of Diamond Like Carbon (DLC) Coatings With Si Interlayers

偏压和气体压力对硅夹层类金刚石（DLC）涂层结构、附着力和磨损行为的影响