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Test fehlertoleranter nanoelektronischer Systeme

Test fehlertoleranter nanoelektronischer Systeme
测试容错纳米电子系统
批准号:
22320686
负责人:
Professorin Dr. Sybille Hellebrand
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2006
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2005-12-31 至 2013-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
Schwankungen和eine erhöhte and fällickeit gegenüber Extraen en STöreinlüssen Müssen be Nanum Electrktronischen Schaltungen and Systeman dch einen einen robusten Entwurf abgefangen.这是一种自适应、自适应和自适应的体系,是一种新的、动态的、可持续发展的体系。这是一个非常重要的问题,因为这是一个非常重要的问题,因为它是一个很好的解决方案。我是Rahman des Projekts Rossy Sollen Deshalb Neue Teststrategien für den on-and Offline Test Robuster System entwickelt den.这是一种生产测试,它是一种永久性的行为和信息系统,它的目的是为了更好地保护人类。当产品质量下降时,必须保证产品的质量和系统的质量。这是一种新的技术和技术,但它并不能满足人们的需求。自适应和自适应的建筑师--Charakterisierung von Fehlerrten and Parameterschwankungen entwickelt是一种在线建筑。
英文摘要
Parameterschwankungen und eine erhöhte Anfälligkeit gegenüber externen Störeinflüssen müssen bei nanoelektronischen Schaltungen und Systemen durch einen robusten Entwurf abgefangen werden. Neben klassischen fehlertoleranten Architekturen gewinnen hier adaptive und selbstkalibrierende Systeme, die dynamisch auf veränderte Bedingungen reagieren können, zunehmend an Bedeutung. Die Qualitätssicherung für solche robusten Systeme ist mit einer Reihe von Herausforderungen verbunden, die mit konventionellen Testverfahren nur schwer oder gar nicht zu bewältigen sind. Im Rahmen des Projekts RoSy sollen deshalb neue Teststrategien für den On- und Offline Test robuster Systeme entwickelt werden. Dabei müssen die Teststrategien für den Produktionstest einerseits zwischen kritischen permanenten Defekten und im Systembetrieb kompensierbaren Fehlern unterscheiden, um unnötige Ausbeuteverluste zu vermeiden. Wenn andererseits durch eingebaute Redundanz bereits Produktionsfehler maskiert werden, muss die verbleibende Robustheit im Systembetrieb bewertet werden („Quality Binning“). Ähnlich müssen Verfahren zur Online-Überwachung so erweitert werden, dass zwischen neuen kritischen Fehlern wie z. B. Alterungsdefekten und kompensierbaren transienten Fehlern unterschieden wird. Zur Unterstützung von adaptiven und selbstkalibrierenden Architekturen sollen effiziente Verfahren zur Online-Charakterisierung von Fehlerraten und Parameterschwankungen entwickelt werden.
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会议论文
FAST - Reliability Assessment using Faster-than-at-Speed Test
  • 批准号:
    341939202
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2017
  • 负责人:
    Professorin Dr. Sybille Hellebrand
  • 依托单位:
Eingebettete Diagnose- und Debugmethoden für VLSI Systeme in Nanometer-Technologien
  • 批准号:
    18100421
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2006
  • 负责人:
    Professorin Dr. Sybille Hellebrand
  • 依托单位:
海外基金