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Test fehlertoleranter nanoelektronischer Systeme

Test fehlertoleranter nanoelektronischer Systeme
测试容错纳米电子系统
批准号:
22320686
负责人:
Professorin Dr. Sybille Hellebrand
金额:
$0.0万
依托单位:
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2006
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2005-12-31 至 2013-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
Parameter schwankungen und eine erhöhte Anfälligkeit gegenüber externen Störeinflüssen müssen bei nanoelektronischen Schaltungen und Systemen durch einen robusten Entwurf abgefangen韦尔登.如果建筑设计的分类是自适应的和自适应的系统,那么床面的动力学就变得更好,更有意义。Die Qualitätssicherung für solche robusten Systeme ist mit einer Reihe von Herausforderungen verbunden,die mit konventionellen Testverfahren努尔schwer oder gar nicht zu bewältigen sind. Im Rahmen des Projekts RoSy sollen deshalb neue Teststrategien für den On- und Offline Test robuster Systeme entwickelt韦尔登. Dabei müssen die Teststrategien für den Produktionstest einerseits zwischen kritischen permanenten Defekten und im Systembetrieb kompensierbaren Fehlern unterscheiden,um unnötige Ausbeuteverluste zu vermeiden.如果通过一个冗余的产品来降低生产成本韦尔登,必须确保系统中的可靠性韦尔登(“质量分级”)。如果您需要在线测试-那么韦尔登就可以了,因为新的kritischen Fehlern和z一样。B。Alterungsdefekten和kompensierbaren transienten Fehlern unterscheden wird.自适应和自适应建筑设计的研究需要有效地利用Fehlerraten和参数化的在线特性来进行韦尔登。
英文摘要
Parameterschwankungen und eine erhöhte Anfälligkeit gegenüber externen Störeinflüssen müssen bei nanoelektronischen Schaltungen und Systemen durch einen robusten Entwurf abgefangen werden. Neben klassischen fehlertoleranten Architekturen gewinnen hier adaptive und selbstkalibrierende Systeme, die dynamisch auf veränderte Bedingungen reagieren können, zunehmend an Bedeutung. Die Qualitätssicherung für solche robusten Systeme ist mit einer Reihe von Herausforderungen verbunden, die mit konventionellen Testverfahren nur schwer oder gar nicht zu bewältigen sind. Im Rahmen des Projekts RoSy sollen deshalb neue Teststrategien für den On- und Offline Test robuster Systeme entwickelt werden. Dabei müssen die Teststrategien für den Produktionstest einerseits zwischen kritischen permanenten Defekten und im Systembetrieb kompensierbaren Fehlern unterscheiden, um unnötige Ausbeuteverluste zu vermeiden. Wenn andererseits durch eingebaute Redundanz bereits Produktionsfehler maskiert werden, muss die verbleibende Robustheit im Systembetrieb bewertet werden („Quality Binning“). Ähnlich müssen Verfahren zur Online-Überwachung so erweitert werden, dass zwischen neuen kritischen Fehlern wie z. B. Alterungsdefekten und kompensierbaren transienten Fehlern unterschieden wird. Zur Unterstützung von adaptiven und selbstkalibrierenden Architekturen sollen effiziente Verfahren zur Online-Charakterisierung von Fehlerraten und Parameterschwankungen entwickelt werden.
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会议论文
FAST - Reliability Assessment using Faster-than-at-Speed Test
  • 批准号:
    341939202
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2017
  • 负责人:
    Professorin Dr. Sybille Hellebrand
  • 依托单位:
Eingebettete Diagnose- und Debugmethoden für VLSI Systeme in Nanometer-Technologien
  • 批准号:
    18100421
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2006
  • 负责人:
    Professorin Dr. Sybille Hellebrand
  • 依托单位:
海外基金