Eingebettete Diagnose- und Debugmethoden für VLSI Systeme in Nanometer-Technologien

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Ziel des Projekts ist die Entwicklung und Untersuchung innovativer eingebetteter Diagnoseverfahren für integrierte Systeme in Nanometer Technologie. Da hier mit sehr großen Prozessschwankungen, anfänglich sehr geringen Ausbeuten und einer erhöhten Störanfälligkeit im Betrieb zu rechnen ist, sind effiziente Diagnoseverfahren unabdingbar, um integrierte Systeme mit vertretbaren Kosten schnell zur Marktreife zu bringen und einen stabilen, zuverlässigen Einsatz zu gewährleisten. Dazu müssen mehr als bisher Diagnoseeinrichtungen mit in das System integriert werden (¿Built-in Diagnosis¿) und gegebenenfalls auch Reparaturmöglichkeiten vorgesehen werden (¿Built-in Repair¿). Im Rahmen des Projekts werden dazu für digitale Systemkomponenten die Grundlagen geschaffen. Startpunkt ist die Auswahl bzw. Entwicklung von geeigneten Fehlermodellen. Darauf aufbauend werden auf Software Seite Algorithmen zur Bestimmung diagnostischer Tests entworfen. Auf Hardware Seite werden die Bausteine für die Diagnoseinfrastruktur auf dem Chip (¿Infrastructure IP¿) entworfen und Module zur Erzeugung der Diagnosestimuli, zur Auswertung der Antworten und zur Analyse von Reparaturmöglichkeiten entwickelt.