Eingebettete Diagnose- und Debugmethoden für VLSI Systeme in Nanometer-Technologien

Ziel des项目ist die Entwicklung and Untersuchung创新的更好的诊断系统在纳米技术中的应用。Da hier mit sehr großen Prozessschwankungen, anfänglich sehr geringen Ausbeuten and iner erhöhten Störanfälligkeit im Betrieb zu technien ist， ind efficient diagnoizente诊断学诊断技术，um integrated Systeme mit vertretbaren Kosten schnell zur marketreife zu bringen和Einsatz izen stabilen， zuverlässigen Einsatz zugewährleistenDazu msssen mehr也bisher Diagnoseeinrichtungen mit in das System integrert werden（内置诊断）和gegebenenfalls auch Reparaturmöglichkeiten vorgesehen werden（内置修复）。数字系统组件是一种数字化系统组件。Startpunkt ist die Auswahl bzw。科学与技术。软件、软件、算法、诊断、测试等。Auf Hardware Seite werden die Bausteine f<e:1>或die diagnoseinfrastructureaufdem Chip (Infrastructure IP) entworfen und Module zur Erzeugung der Diagnosestimuli， zur Auswertung der Antworten和zur Analyse von Reparaturmöglichkeiten entwickelt。

Ziel des Projekts ist die Entwicklung und Untersuchung innovativer eingebetteter Diagnoseverfahren für integrierte Systeme in Nanometer Technologie. Da hier mit sehr großen Prozessschwankungen, anfänglich sehr geringen Ausbeuten und einer erhöhten Störanfälligkeit im Betrieb zu rechnen ist, sind effiziente Diagnoseverfahren unabdingbar, um integrierte Systeme mit vertretbaren Kosten schnell zur Marktreife zu bringen und einen stabilen, zuverlässigen Einsatz zu gewährleisten. Dazu müssen mehr als bisher Diagnoseeinrichtungen mit in das System integriert werden (¿Built-in Diagnosis¿) und gegebenenfalls auch Reparaturmöglichkeiten vorgesehen werden (¿Built-in Repair¿). Im Rahmen des Projekts werden dazu für digitale Systemkomponenten die Grundlagen geschaffen. Startpunkt ist die Auswahl bzw. Entwicklung von geeigneten Fehlermodellen. Darauf aufbauend werden auf Software Seite Algorithmen zur Bestimmung diagnostischer Tests entworfen. Auf Hardware Seite werden die Bausteine für die Diagnoseinfrastruktur auf dem Chip (¿Infrastructure IP¿) entworfen und Module zur Erzeugung der Diagnosestimuli, zur Auswertung der Antworten und zur Analyse von Reparaturmöglichkeiten entwickelt.