kombiniertes Rasterkraft- und konfokales Raman-Mikroskop

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Das kombinierte AFM/Raman-Mikroskop soll zur Erforschung und Charakterisierung neuartiger Materialien mitmaßgeschneiderten physikochemischen Eigenschaften und einem hierarchischen Strukturaufbau von der partikulären Nano- bis zur makroskopischen Größenskala eingesetzt werden. Die Forschung wird in höchstem Maße interdisziplinär betrieben und beinhaltet sowohl Grundlagenforschung z.B. zu Haft- und Reibungskräften von Partikeln im Kontakt als auch anwendungsorientierte Forschung. Hier soll das AFM/Raman-Mikroskop eingesetzt werden, um die Entwicklung neuer bzw. die Optimierung bereits bestehender Verfahren z.B. zur Graphenherstellung oder zur Herstellung und Funktionalisierung von Nanomaterialien nachhaltig zu stärken. Kolokale Rasterkraft- und Raman-Mikroskopie ist dabei von großer Bedeutung, denn nur mit dieser Messtechnik lassen sich komplementäre Materialeigenschaften wie lokale Haft- und Reibungskräfte sowie die lokale chemische Zusammensetzung miteinander korrelieren. Die Kombination aus Raman-Mikroskopie und AFM ist für Partikelsysteme extrem hilfreich, da sowohl die laterale Verteilung von Molekülen, mögliche kristalline Phasen als auch deren Morphologie auf der Nanoskala erfasst werden können.