Entwicklung eines kombinierten Rasterkraft- und Magnetresonanzkraft-Mikroskops für die mechanisch detektierte Elektronenspinresonanz-Spektroskopie und -Mikroskopie

电子和核自旋共振（EPR，NMR）的机理检测采用了磁共振（AFM）方法，磁共振力显微镜（MRFM）是一种新的常规工业方法。采用光栅扫描显微镜技术（MRFM）的组合装置可以发射一种新的、对化学敏感的显微镜，它可以在各种不同的情况下吸收Meßsonde上的各种高强度的非磁性材料，也可以发射（化学）特性较好的反射镜。采用EPR-MRFM进行特征性前处理，使其在正常情况下可用于韦尔登的改进和特殊方法。在微生物学和半导体电子学中，Vorhabens的Schwerpunkt应该是一个重要的分支，它与EPRSpektroskopie和Mikroskopie有关。

Die mechanische Detektion von Elektronen- und Kernspinresonanz (EPR, NMR) mit Hilfe der aus der Kraftmikroskopie (AFM) hervorgegangenen Magnetresonanzkraftmikroskopie, MRFM (Magnetic Resonance Force Microscopy) weist in bestimmten Fällen deutlich niedrigere Nachweisgrenzen und eine höhere räumliche Auflösung auf als die konventionellen induktiven Methoden. Die Kombination mit rasterkraftmikroskopischen Techniken (MRFM) erlaubt eine neue abbildende und chemisch sensitive Mikroskopie, die bei variierendem Abstand eines geeignet gewählten miniaturisierten Gradientmagneten als Meßsonde auch die (chemische) Charakterisierung verborgener Grenzflächen erlaubt. Aufbauend auf eigenen Voruntersuchungen mit EPR-MRFM unter normalen Umgebungsbedingungen soll die Methode weiterentwickelt und speziell auf die lokale Spektroskopie ausgedehnt werden. Der Schwerpunkt des Vorhabens soll hierbei auf der für Anwendungen in der Mikrobiologie und der Halbleiterelektronik interessanten EPRSpektroskopie und -Mikroskopie liegen.