Entwicklung eines kombinierten Rasterkraft- und Magnetresonanzkraft-Mikroskops für die mechanisch detektierte Elektronenspinresonanz-Spektroskopie und -Mikroskopie

机械检测von Elektronen-und KernSpin Resonanz(EPR，核磁共振)MIT Hilfe der Aus der Kraftmikroskopie(AFM)hervorgegangenen MagnetResonanzkraftmikroskopie，MRFM(磁共振力显微镜)Weist in bstimten Fällen deutlich niedrigere Nachweisgrenzen and eine höhere Räumliche Auflöung auf die konvenonellen Induktiven Methoden。这项技术(MRFM)是一种新的、对化学敏感的技术，也是一种新的、更具敏感性的技术，也是一种新的技术。在此基础上，进行了EPR-MRFM分析，并提出了相应的解决方法。Der Schwerpenkt des Vorhabens soll hierbeauf der für Anwendungen in der Mikrobiologie and der Halbleiterelektronik Interessanten en EPRSpektroskopie und-Mikroskopie liegen.

Die mechanische Detektion von Elektronen- und Kernspinresonanz (EPR, NMR) mit Hilfe der aus der Kraftmikroskopie (AFM) hervorgegangenen Magnetresonanzkraftmikroskopie, MRFM (Magnetic Resonance Force Microscopy) weist in bestimmten Fällen deutlich niedrigere Nachweisgrenzen und eine höhere räumliche Auflösung auf als die konventionellen induktiven Methoden. Die Kombination mit rasterkraftmikroskopischen Techniken (MRFM) erlaubt eine neue abbildende und chemisch sensitive Mikroskopie, die bei variierendem Abstand eines geeignet gewählten miniaturisierten Gradientmagneten als Meßsonde auch die (chemische) Charakterisierung verborgener Grenzflächen erlaubt. Aufbauend auf eigenen Voruntersuchungen mit EPR-MRFM unter normalen Umgebungsbedingungen soll die Methode weiterentwickelt und speziell auf die lokale Spektroskopie ausgedehnt werden. Der Schwerpunkt des Vorhabens soll hierbei auf der für Anwendungen in der Mikrobiologie und der Halbleiterelektronik interessanten EPRSpektroskopie und -Mikroskopie liegen.