Entwicklung eines kombinierten Rasterkraft- und Magnetresonanzkraft-Mikroskops für die mechanisch detektierte Elektronenspinresonanz-Spektroskopie und -Mikroskopie

模具机构检测电子和核磁共振（EPR， NMR） mit Hilfe der aus der Kraftmikroskopie (AFM) hervorgegangenen magnenetresonanzkraftmikroskopie， MRFM（磁共振力显微镜）weist in best estimmten Fällen deutlich niedrigere Nachweisgrenzen and eine höhere räumliche Auflösung aufals模具常规感应方法。模具组合mit rasterkraftmikroskopischen Techniken (MRFM) erlaubt eine neue abbildende和化学敏感microskopie， Die bei variierendm abereende abines geeignet gewählten miniaturisierten gradientmagnetenals Meßsonde auch Die (chemische) Charakterisierung verborgener Grenzflächen erlaubt。本征光谱分析方法：本征光谱分析方法：本征光谱分析方法：本征光谱分析方法：本征光谱分析方法：本征光谱分析方法。在微生物学和生物电子学的研究中，在微生物学和微生物学的研究中，在微生物学和微生物学的研究中，在微生物学和微生物学的研究中。

Die mechanische Detektion von Elektronen- und Kernspinresonanz (EPR, NMR) mit Hilfe der aus der Kraftmikroskopie (AFM) hervorgegangenen Magnetresonanzkraftmikroskopie, MRFM (Magnetic Resonance Force Microscopy) weist in bestimmten Fällen deutlich niedrigere Nachweisgrenzen und eine höhere räumliche Auflösung auf als die konventionellen induktiven Methoden. Die Kombination mit rasterkraftmikroskopischen Techniken (MRFM) erlaubt eine neue abbildende und chemisch sensitive Mikroskopie, die bei variierendem Abstand eines geeignet gewählten miniaturisierten Gradientmagneten als Meßsonde auch die (chemische) Charakterisierung verborgener Grenzflächen erlaubt. Aufbauend auf eigenen Voruntersuchungen mit EPR-MRFM unter normalen Umgebungsbedingungen soll die Methode weiterentwickelt und speziell auf die lokale Spektroskopie ausgedehnt werden. Der Schwerpunkt des Vorhabens soll hierbei auf der für Anwendungen in der Mikrobiologie und der Halbleiterelektronik interessanten EPRSpektroskopie und -Mikroskopie liegen.