Anwendungen des Rasterkraft-Mikroskops in der Materialphysik

原子力显微镜在材料物理中的应用

• 批准号: 5216520
• 负责人: Professor Dr. Eckhard Nembach
• 金额: --
• 依托单位: Institut für Materialphysik
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Grants
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 1998-12-31 至 2005-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5216520?language=en
• 关键词: Anwendungen; des; Rasterkraft; Mikroskops; der

Sehr viele technisch wichtige Eigenschaften von Werkstoffen werden durch ihre Mikrostruktur bestimmt. Unter dieser versteht man alle Gitterbaufehler, die nicht im thermodynamischen Gleichgewicht sind. Am wichtigsten sind: ein- (Versetzungen) und zwei- (Korn- und Phasengrenzen) dimensionale Kristallbaufehler und Partikel einer zweiten Phase. Letztere können z.B. die Grenze der mechanischen Belastbarkeit von Konstruktionswerkstoffen drastisch erhöhen. Die Größe der interessanten Partikel liegt oft sehr weit unter dem Auflösungsvermögen optischer Mikroskope. Deshalb werden zur Vermessung solcher Partikel hauptsächlich Elektronen-Mikroskope, vor allem Transmission-Elektronen-Mikroskope (TEM), eingesetzt. In dem in Rede stehenden Forschungsvorhaben wird die Einsetzbarkeit von Rasterkraft-Mikroskopen (AFM=atomic force microscope) für die Charakterisierung der Mikrostruktur evaluiert, vor allem so weit sie für die Festigkeit von Materialien relevant ist. Es gilt zwei Fragen zu klären: 1) wo und in wie weit können die einfacher zu handhabenden, viel billigeren AFMs TEMs ersetzen? 2) Welche zusätzlichen Informationen liefern AFMs?

Sehr viele technisch wichtige Eigenschaften von Werkstoffen werden durch mikrostruktur bestimmt。在 Gitterbaufehler 中，热力学 Gleichgewicht sind 是不存在的。 Am wichtigsten sind: ein- (Versetzungen) 和 zwei- (Korn- und Phasengrenzen) Dimensione Kristallbaufehler 和 Partikel einer zweiten Phase。 Letztere können z.B. Die Grenze der mechanischen Belastbarkeit von Konstruktionswerkstoffen drastisch erhöhen。 Die Größe deressanten Partikel liegt oft sehr weit dem Auflösungsvermögen optischer Mikroskope。详细说明电子显微镜的主要部件，包括传输电子显微镜 (TEM) 和电子显微镜。在 Rede stehenden Forschungsvorhaben wird die Einsetzbarkeit von Rasterkraft-Mikroskopen（AFM = 原子力显微镜）中，为了评估 Mikrostruktur 的特性，请参阅相关材料的 Festigkeit。 Es gilt zwei Fragen zu klären：1) wo und in wie weit können die einfacher zu handhabenden, viel billigeren AFMs TEMs ersetzen？ 2) Welche zusätzlichen Informationen liefern AFMs？