Anwendungen des Rasterkraft-Mikroskops in der Materialphysik

在微结构估计中，采用了基于特征schaften von Werkstoffen werden的方法。在柴氏理论的指导下，柴氏理论被称为“热动力学”。其中：ein- (Versetzungen)和zwei- （Korn-和Phasengrenzen）维数、Kristallbaufehler和Partikel einer zweiten Phase。Letztere können z.B. die Grenze der mechanischen Belastbarkeit von Konstruktionswerkstoffen drastisch erhöhen。在他们的Auflösungsvermögen光学显微镜下，Die Größe der interessanparticle light。电子显微镜，传输-电子显微镜（TEM），光学器件，电子器件，电子器件，电子器件，电子器件。In dem In Rede stehenden forschungsvohaben wird die Einsetzbarkeit von rasterkaft - mikroskopen （AFM=原子力显微镜）；[footnoterisierung der microstrucktur evaluiert]; [footnoterisierung der microstrucktur]；Es gilt zwei Fragen zu klären: 1)在wei wei wei wei中发现können die infacher zu handhabenden， viel biligeren AFMs TEMs ersetzen？2)如何zusätzlichen信息生活AFMs？

Sehr viele technisch wichtige Eigenschaften von Werkstoffen werden durch ihre Mikrostruktur bestimmt. Unter dieser versteht man alle Gitterbaufehler, die nicht im thermodynamischen Gleichgewicht sind. Am wichtigsten sind: ein- (Versetzungen) und zwei- (Korn- und Phasengrenzen) dimensionale Kristallbaufehler und Partikel einer zweiten Phase. Letztere können z.B. die Grenze der mechanischen Belastbarkeit von Konstruktionswerkstoffen drastisch erhöhen. Die Größe der interessanten Partikel liegt oft sehr weit unter dem Auflösungsvermögen optischer Mikroskope. Deshalb werden zur Vermessung solcher Partikel hauptsächlich Elektronen-Mikroskope, vor allem Transmission-Elektronen-Mikroskope (TEM), eingesetzt. In dem in Rede stehenden Forschungsvorhaben wird die Einsetzbarkeit von Rasterkraft-Mikroskopen (AFM=atomic force microscope) für die Charakterisierung der Mikrostruktur evaluiert, vor allem so weit sie für die Festigkeit von Materialien relevant ist. Es gilt zwei Fragen zu klären: 1) wo und in wie weit können die einfacher zu handhabenden, viel billigeren AFMs TEMs ersetzen? 2) Welche zusätzlichen Informationen liefern AFMs?