Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EBSD/EDX-Detektor

点击翻译按钮获取中文摘要

„Das vorhandene REM (Kathodengerät, beschafft 2001) soll durch ein modernes FBG-REM mit einem leistungsfähigen EBSD/EDX-Detektor-System ersetzt werden. Durch diese Ersatzbeschaffung ergeben sich neue Möglichkeiten in Bezug auf die Phasenanalyse im Gefüge, die Bestimmung der Kornorientierungen und ihrer Störungen sowie der lokalen Deformationen in der Mikrostruktur. Die Forschungsvorhaben, die mit dem beantragten Gerät bearbeitet werden sollen, beschäftigen sich mit der Rissentstehung und dem mikrostrukturell bestimmten Risswachstum unter Ermüdungsbelastung, der Analyse und Bewertung fertigungsbedingter Gefüge- und Eigenspannungszustände, der Strukturanalyse von Kunststoffen, der Bewertung von Gefügezuständen beim Fügen und der Phasenanalyse von thermomechanisch umgeformten Komponenten. Ein wesentliches Merkmal des beantragten Geräts ist, dass hochauflösende REM-Analysen unter Belastung durchgeführt werden können. Dadurch wird es möglich, durch die Beanspruchung hervorgerufene lokale Veränderungen des Gefüges zu verfolgen und ablaufende Schädigungsvorgänge zu verstehen. Die beteiligten Lehrstühle/Fachgebiete werden mit dem beantragten Gerät die bereits vorhandene interdisziplinäre Zusammenarbeit verstärken und ausbauen und so weiter zur Profilbildung des Fachbereichs Maschinenbau der Universität Kassel beitragen.“